Signal Integrity Seminar

Vážení zákazníci,

rádi bychom Vás tímto pozvali na seminář „Měření signálové integrity“ aneb jak identifikovat a řešit problémy při návrzích vysokorychlostních digitálních obvodů.

Rostoucí frekvence signálů v moderních digitálních obvodech přináší celou řadu problémů. Během našeho semináře vám vysvětlíme jak tyto problémy odhalit a zjistit jejich příčiny.

Program semináře je následující:

9:00       Zahájení semináře

9:05       Úvod do signálové integrity (Ing. Adam Pavliš, H TEST a.s.)

• Co je vlastně signálová integrita a proč je důležitáDigitální signál
• Diagram oka
• Příčiny zkreslení signálu a jejich projevy
• Diferenciální vedení
• Bit Error Rate Test (BERT)

10:30     Přestávka

11:00     Osciloskopy a měření s nimi část I. (Ing. Václav Navrátil, PhD., H TEST a.s.)

• Typy osciloskopů – vzorkování v reálném nebo ekvivalentním čase
• Klíčové parametry při výběru osciloskopu  – šířka pásma, vzorkování, rozlišení, ENOB, ...
• Spouštění měření a clock recovery
• Připojení k měřenému obvodu  –  sondy a přizpůsobení
• Vliv sondy na měřený obvod a jeho minimalizace

12:00     Oběd

13:00     Osciloskopy a měření s nimi část II. (Ing. Václav Navrátil, PhD., H TEST a.s.)

• Diagram oka – jak správně změřit
• Jitter - typy/složky jitteru, způsoby měření a výpočtu
• Ukázky měření jitteru
• Přeslechy a jejich měření

13:30     Obvodové analyzátory a jejich využití při měření signálové integrity (Ing. Adam Pavliš, H TEST a.s.)

• Time Domain Reflectometry (TDR) – osciloskopy vs. obvodové analyzátory
• Co je obvodový analyzátor?
• Teorie obvodové analýzy
• Důležité součásti měřicího systému – kabely a kalibrační kity
• Diferenciální měření s obvodovým analyzátorem, diferenciální S-parametry
• Měření v časové oblasti pomocí obvodového analyzátoru
• Moderní VNA – pokročilá měření užitečná i pro design digitálních zařízení

15:00     Diskuze a další ukázky měření

15:30     Předpokládaný konec semináře

Součástí semináře budou i ukázky praktických měření s digitálními osciloskopy a obvodovými analyzátory Keysight Technologies. Účast na semináři je bezplatná.

Seminář se koná:

20.10.2022 v Praze, Masarykova kolej ČVUT, Thákurova 1, 160 00 Praha 6 (mapa)

Máte-li zájem se semináře zúčastnit, prosím přihlašte se s použitím odkazu:

Těšíme se na setkání s vámi.
H TEST a.s.